XTOM三维光学面扫描系统

       XTOM系统基于双目立体视觉原理，采用国际先进的外差式多频相移技术，实现非接触式的物体表面三维数据的细致、精确、快速获取。与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度高、纹理细节清晰；与接触式单点测量的三坐标相比，测量效率高、点云密度大、易于数模比对，更适合大尺寸物体、复杂曲面及柔性表面的测量；与激光扫描相比，精度高、扫描速度快且抗干扰能力强，光源对人体安全无害。系统单次测量幅面可从30×30到1000×1000 mm2，结合全局自动拼接技术，可以实现几十米超大工件的快速高精度测量。系统广泛适用于各种有三维数据需求的行业，如汽车工业、航空航天工业、数码家电、文保文创及医学等领域。
      系统主要由测量头、控制箱、标定板、标志点、计算机及检测分析软件等组成。
      系统应用范围包括：
1、 逆向设计：快速获取零部件的表面点云数据，建立三维数模，从而达到产品快速设计的目的。
2、产品检测：生产线产品质量控制和形位尺寸检测，特别适合复杂曲面的检测，可以检测机械加工的复杂零部件及铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。
3、其它应用：文保文创领域的文物高精度全色彩数字化、虚拟修复及数字化展示；医学的牙齿及畸齿矫正、医学整容修复等。